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Projekt industrielle Bildverarbeitung
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Studiengang (PO) Bereich
| Fach- semester
| Prüfung
| SWS
| ECTS Punkte
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| Nr
| VL/T
| Art
| V
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| S
| SU
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Bereich Is-IN-CVCI-P/2004 |
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Bereich Is-IN-CVCI-P/2008 |
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| Dozent(in) |
Prof. Dr. Neumann, Prof. Dr. Hühne, Prof. Dr. Mehner, Prof. Dr. Roth, Prof. Dr. Sohlbach |
Inhaltliche Beschreibung |
In dem Projekt werden Bilddaten unterschiedlicher Bildquellen wie z.B. CCD-Kameras und Zeilenkameras bearbeitet. Dabei wird besonderer Wert auf die Bilderfassung, die Beleuchtungstechnik, die Nutzung der aus den Bilddaten extrahierten Informationen zur Ansteuerung von Handlingsystemen (Roboter, Greifer, Verschiebeelemente, Ventile etc.) gelegt. Weitere wichtige Inhalte werden in der Erfassung räumlicher Informationen gesehen. Außerdem soll der Einsatz der Bildverarbeitung unter folgenden Aspekten Gegenstand näherer Untersuchungen sein:
- In der Qualitätssicherung (mit BV messen, prüfen, auf Vollständigkeit untersuchen etc.)
Inspizieren und Messen von Objekten der Mikro- und Nanotechnik (z.B. Masken und Wafer für die Halbleiterindustrie) mit Unterstützung unterschiedlichster Mikroskopieverfahren (klassische Lichtmikroskopie, Laserscanning Mikroskopie, Nahfeldmikroskopie, SEM etc.)
- Autofokussierung, Autoalignment
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| Lernziele |
Das Modul soll die Studierenden zu selbständigem Arbeiten unter fachlicher und methodischer Anleitung befähigen. Hierzu sollen die Studierenden in die Lage versetzt werden, auf Basis ihres Grundwissens Techniken und Verfahren aus wissenschaftlichen Publikationen zu verstehen, zu bewerten und für eigene Anwendungen zu nutzen. Die aus dem Grundlagenprojekt erworbenen Kenntnisse über Projektmanagement, Teamarbeit, wissenschaftliches Arbeiten, Präsentationstechnik, Literatur- und Informationsrecherche sollen vertieft und durch eigene praktische Erfahrungen angereichert werden. |
Schlüssel- qualifikationen |
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| Unterrichtsform |
Projektarbeit als Einzelleistung oder in Teams von 2 bis max. 4 Studenten (etwa 90%) und seminaristischer Unterricht (etwa 10%) Workload: 450 Stunden |
| Sprache der Veranstaltung |
deutsch |
Prüfungs- leistungen |
Schriftliche Ausarbeitung mit Vortrag |
Zulassungs- voraussetzungen |
Module Grundlagenprojekt, Systemtechnik, Computer Vision 1, Computational Intelligence 1 und Computer Vision 2 |
| Art des Moduls |
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| Literatur |
- Horn B (2001) Robot Vision. MIT Press Cambridge, Massachusetts, London, McGraw-Hill, New York
- Jain R, Kasturi R, Schunck B (1995) Machine Vision. McGraw-Hill, New York
- Petrotti F, Petrotti L (1996) Optik Eine Einführung. Prentice Hall, München London Mexiko New York
- Young M (1997) Optik, Laser, Wellenleiter. Springer, Berlin, Heidelberg, New York
- Hecht E (2001) Optik. Oldenbourg, München Wien
- Jiang X, Bunke H (1997) Dreidimensionales Computersehen. Springer, Berlin, Heidelberg, New York
- Neumann B (2004) Bildverarbeitung für Einsteiger. Springer, Berlin, Heidelberg, New York
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| Weitere Informationen |
Das Modul kann auf Wunsch auch extern durchgeführt werden, mögliche Betreuer sind: Prof. Dr. Dudziak, FH Bochum, Prof Dr. Morschell und Prof. Dr. Poffet, FH Sion, Schweiz Prof. Dr. Neugebauer, FH Südwestfalen, Standort Hagen Prof. Dr. Fan, Foshuan University, China |
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Letzte Aktualisierung: 30.06.2009
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